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汽车塑料镀铬层的铜加速盐雾试验失效因素分析(2)

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图5 微孔与CASS失效列联分析的马赛克图

表5 微孔与CASS失效列联分析的列联表计数合计百分比列百分比行百分比CASS测试结果NG 85 23.16 Micropo rous OK NG 51 13.90 30.36 60.00 117 31.88 69.64 41.49 168 45.78 OK 34 9.26 17.09 56.51 165 44.96 82.91 56.51 199 54.22 282 76.84 367

表6 微孔与CASS失效列联分析的校验参数表images/BZ_19_1311_1459_1625_1518.pngimages/BZ_19_1625_1459_1798_1518.png-LogLike概率＞卡方0.0027*0.0027*备择假设Prob（CASS=OK）在“Microporous=NG”的情况下大于“OK”Prob（CASS=OK）在“Microporous=OK”的情况下大于“NG”各Microporous”的Prob（CASS=OK）不同images/BZ_19_1311_1577_1625_1637.png数目检验Pearson左侧R方（U）/BZ_19_1798_1459_2026_1518.pngimages/BZ_19_1625_1577_1798_1637.pngimages/BZ_19_1311_1696_1625_1755.pngimages/BZ_19_1625_1696_1798_1755.png自由度卡方9.016 0.999 1images/BZ_19_1311_1861_1625_1967.png双侧images/BZ_19_1625_1861_1798_1967.png0.002 9*

图6 活性点与CASS失效列联分析的马赛克图

通过图3、4可以看出，分散电流、微孔与CASS失效有着较明显的相关性，而图6中活性点与CASS失效之间的相关性并不明显。

活性点相当于有效分散电流的微孔点，两者对CASS失效应该有相同的相关程度，即微孔与CASS失效强相关，就没有理由活性点与CASS不强相关。这种情况应该是检测的局限性和局部样本的样品量偏少造成的。

表7 活性点与CASS失效列联分析的列联表计数合计百分比列百分比行百分比CASS测试结果images/BZ_20_266_644_1181_1235.pngNGOK

表8 活性点与CASS失效列联分析的校验参数表images/BZ_20_266_1446_581_1507.pngimages/BZ_20_581_1446_754_1507.pngimages/BZ_20_754_1446_984_1507.pngimages/BZ_20_984_1446_1181_1507.pngimages/BZ_20_581_1567_754_1627.png自由度卡方0.145 /BZ_20_266_1567_581_1627.pngimages/BZ_20_754_1567_1181_1627.pngimages/BZ_20_754_1688_1181_1748.pngimages/BZ_20_266_1688_581_1748.png数目检验Pearson左侧images/BZ_20_581_1688_754_1748.pngR方（U）images/BZ_20_266_1857_581_1965.png双侧images/BZ_20_581_1857_754_1965.png0.0029*images/BZ_20_754_1857_1181_1965.png-LogLike概率＞卡方0.7030*Prob（CASS=OK）在“Active site=NG”的情况下大于“OK”各“Active site”的Prob（CASS=OK）不同

2.4 电位差与CASS失效之间的相关性

图7为电位差（STEP）与CASS失效列联分析的马赛克图，表9与表10分别为电位差与CASS失效列联分析的列联表和检验参数表，通过图中可以看出电位差与CASS失效之间相关性不大。

图7 电位差与CASS失效列联分析的马赛克图

分析电位差与CASS无强相关性的原因分析如下。

电位差限定范围不合理。最好的电位差应该控制在微孔镍与全光镍40～60 mV，全光镍与半光镍100～135 mV之间，而目前实际主机厂电位差标准为微孔镍与全光镍20～90 mV，全光镍与半光镍100～200 mV之间，故电位差实际标准规定或许存在不合理放大，导致电位差与CASS的关系并不如想象中的强相关。

表9 电位差与CASS失效列联分析的列联表计数合计百分比列百分比行百分比CASS测试结果images/BZ_20_1300_1087_2214_1677.pngNGOK

表10 电位差与CASS失效列联分析的校验参数表images/BZ_20_1300_1899_1615_1959.pngimages/BZ_20_1787_1899_2017_1959.pngimages/BZ_20_2017_1899_2214_1959.pngimages/BZ_20_1615_1899_1787_1959.pngimages/BZ_20_1787_2018_2214_2077.pngimages/BZ_20_1300_2018_1615_2077.pngimages/BZ_20_1615_2018_1787_2077.pngimages/BZ_20_1787_2136_2214_2195.png数目检验Pearson左侧双侧images/BZ_20_1300_2136_1615_2195.pngimages/BZ_20_1615_2136_1787_2195.pngimages/BZ_20_1787_2266_2214_2336.pngimages/BZ_20_1300_2266_1615_2336.pngimages/BZ_20_1615_2266_1787_2336.png自由度卡方0.126 0.6920 0.7738*-LogLike概率＞卡方0.7221*Prob（CASS=OK）在“STEP=NG”的情况下大于“OK”各“STEP”的Prob（CASS=OK）不同R方（U）

另一方面，数据量不够多也可能是造成电位差与CASS无对应关系的原因之一（常规检测中日系主机厂没有电位差要求）。

2.5 装饰镀铬层厚度、微孔等多因子与CASS失效之间的相关性

图8为膜厚、微孔等多因子与CASS失效列联分析的马赛克图，表11、表12分别为上述多因子与CASS失效列联分析的列联表和检验参数表。

通过图中可以看出，在装饰镀铬层厚度和微孔都OK的情况下，CASS合格的概率大于CASS失效的概率。同时，装饰镀铬层厚度和微孔OK和NG，会造成CASS试验OK和NG的概率不同。

图8 装饰镀铬层厚度、微孔等多因子与CASS失效列联分析的马赛克图

表11 装饰镀铬层厚度、微孔等多因子与CASS失效列联分析的列联表计数合计百分比列百分比行百分比Yimages/BZ_21_278_1377_1193_1968.pngNGOK

文章来源：《电镀与精饰》网址: http://www.ddyjszz.cn/qikandaodu/2021/0514/503.html